近年、大容量化されるメモリやSD、マイクロSD等のカード類はテスト時間が膨大に掛かる様になりました。そこで、弊社はテスト時間短縮を目的としたバーンインを行いながら出来得る可能なテストを『テストバーンインシステム』開発によりテスト時間短縮を実現し、様々なご要望に対応した装置を提供致します。
モニターバーンイン装置(メモリー/ ロジック)
FBS-2419 バーンイン装置
FBS-2418 バーンイン装置
高電圧対応バーンイン装置(1200V ドライバー用)
1200V高耐圧プリドライバーIC用バーンイン装置
バーインボードチェッカー